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通用CPU等效老化方案设计与试验技术的研究

小序

老化是一种能够将产品早期故障剔除的无损筛选试验技巧。集成电路的老化历程实质上便是经由过程对其施加应力,加速其内部潜在缺陷裸露的历程。颠末老化,可以使出缺陷的集成电路在上机应用前掉效,从而包管了集成电路终极的应用靠得住性。老化的感化主要有两方面,一是剔除出缺陷的、可能发生早期掉效的产品,包管产品的应用靠得住性;二是评估和对照不合产品的质量和靠得住性水平。

近年来,国家经由过程各类道路大年夜力扶持微处置惩罚器(CPU)产品的研发,已接踵研制出了具有自力常识产权的CPU 产品。相对付先辈的设计和制造技巧,国产CPU 质量和靠得住性评价技巧钻研相对滞后。今朝海内CPU 老化试验规划都是由研制单位自己制订,不合厂家的老化规划间存在较大年夜的差距。如额定事情频率为33MHz 的CPU,有的单位将老化时钟频率定为1MHz,有的将老化时钟频率定为20MHz,这样老化应力强度和老化效果完全没有可比性,是以无法经由过程老化试验进行CPU 产品德量和靠得住性水平的评估和对照。作为用户,盼望经由过程质量和靠得住性试验,评估出更为抱负的产品。是以,对CPU 进行等效老化试验技巧的钻研,成为CPU 质量和靠得住性评估急需办理的问题之一。基于这样的技巧需求,为了办理公正、科学地评估和对照不合CPU 的质量和靠得住性水平,本文进行了通用CPU 等效老化试验技巧的钻研。

CPU老化试验技巧动态

老化试验道理

集成电路的老化历程,实际上是在强情况温度应力下,经由过程对其施加电应力模拟其正常事情,使故障尽早呈现。老化试验的目的是包管产品的应用靠得住性和评估产品的质量与靠得住性水平。集成电路的老化试验退化模型屈服Arrhenius 方程,式(1)为Arrhenius 方程:

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